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Sendira紅外光譜橢偏儀

產(chǎn)品簡介

SENDIRA紅外光譜橢偏儀振動光譜的特點(diǎn)是傅立葉紅外光譜儀FTIR

產(chǎn)品型號：
更新時間：2024-11-18
廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商
訪問量：582
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        SENDIRA紅外光譜橢偏儀振動光譜的特點(diǎn)是傅立葉紅外光譜儀FTIR。測量紅外分子振動模的吸收譜帶，分析長分子鏈的走向和薄膜的組成。紅外光譜橢偏儀適用于測量導(dǎo)電膜的電荷載流子濃度。


        光譜橢偏儀SENDIRA用于測量薄膜厚度，折射率，消光系數(shù)以及體材料，單層和多層堆疊膜的相關(guān)特性。特別是覆蓋層下面的層在可見范圍內(nèi)是不透明的，現(xiàn)在也可以進(jìn)行測量。同時可以分析材料的組成和大分子基團(tuán)和分子鏈的走向。

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