產(chǎn)品中心
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產(chǎn)品中心
測(cè)試設(shè)備
光學(xué)測(cè)試設(shè)備
SENresearch4.0寬光譜橢偏儀
SENresearch4.0寬光譜橢偏儀
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產(chǎn)品分類在寬的光譜范圍從190nm(深紫外)到3,500nm(近紅外)。可以配置用于全穆勒矩陣、各向異性、廣義橢偏、散射測(cè)量等。使用步進(jìn)掃描分析器原理實(shí)現(xiàn)測(cè)量結(jié)果。